[发明专利]基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法在审

专利信息
申请号: 202210080786.7 申请日: 2022-01-24
公开(公告)号: CN114511527A 公开(公告)日: 2022-05-17
发明(设计)人: 屈磊;尚宏伟;刘伟;吴军;苗永春;邹恒东;丁鹏;苏晨 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/41;G06K9/62;G01N21/88;G06V10/774;G06V10/764
代理公司: 合肥国和专利代理事务所(普通合伙) 34131 代理人: 张祥骞
地址: 230601 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及一种基于扩展局部二值模式的纺织丝饼成型不良缺陷检测方法,包括:获取丝饼图像,图像降采样;图像分割和图像裁剪;仿射变换;获取数据集;通过扩展的LBP算法计算出训练集中各个图像的纹理特征向量;生成XML文件;计算出测试集中各个图像的纹理特征向量,SVM支持向量机对测试集正样本、负样本中每张图像的标签进行预测,并计算出预测准确率;对待检测的丝饼图像进行滑块预测;根据滑块预测的标签输出判断结果。本发明通过图像分割将最终的背景干扰去除,使得处理后的图像不再含有大量的干扰,解决了从停留在实验室的研究与验证阶段到能够直接使用到工业生产线中,本发明对纺织丝饼成型不良缺陷检测准确率高、耗时短。
搜索关键词: 基于 扩展 局部 模式 纺织 成型 不良 缺陷 检测 方法
【主权项】:
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