[发明专利]温度补偿的介电常数测量设备在审

专利信息
申请号: 202180056604.6 申请日: 2021-07-22
公开(公告)号: CN116034266A 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 帕布洛·奥特斯巴赫;托马斯·布勒德特 申请(专利权)人: 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司
主分类号: G01N22/00 分类号: G01N22/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆森;戚传江
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于确定介质(2)的温度补偿的介电常数的基于高频的测量设备(1),该测量设备的测量探头(11)包括导电内导体(111)和外导体。内导体(111)至少在沿着轴线(a)的部分中是棒状的。外导体(112)的内壁关于内导体(111)的轴线(a)对称,使得内壁沿着轴线(a)朝向介质延展。针对温度补偿,测量设备(1)包括温度传感器(113),根据本发明,该温度传感器(113)被定位在内导体(111)的第一端部区域中,外导体(112)的内壁朝向该端部区域延展。多个传感器端子(1131)中的一个处于内导体(111)的电位。作为根据本发明的温度传感器(113)的这种一体化的结果,介质(2)的温度被直接测量,而不损害介电常数的基于高频的测量。由此,介电常数的高准确度测量和高准确度温度补偿成为可能。
搜索关键词: 温度 补偿 介电常数 测量 设备
【主权项】:
暂无信息
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