[发明专利]半导体器件在审

专利信息
申请号: 202180019789.3 申请日: 2021-02-17
公开(公告)号: CN115244684A 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 谷冈朋范;江上和男 申请(专利权)人: 罗姆股份有限公司
主分类号: H01L23/28 分类号: H01L23/28;H01L23/48;H01L21/60
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;徐飞跃
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供一种半导体器件,能够实现半导体器件的适当的动作,并且提高树脂部与引线的密接性。包括半导体元件(1)、具有第1焊盘部(21)的第1引线(2)、具有第2焊盘部(31)的第2引线(3)、导通部件(61)和树脂部(8),第1焊盘部(21)具有包含与元件背面(1b)接合的第1平滑区域(211)和沿着z方向观察时与半导体元件(1)离开且粗糙度比第1平滑区域(211)大的区域即第1粗化区域(212)的第1焊盘主面(21a),第2焊盘部(31)具有包含与第2键合部(612)接合的第2平滑区域(311)和沿着z方向观察时与第2键合部(612)离开且粗糙度比第2平滑区域(311)大的区域即第2粗化区域(312)的第2焊盘主面(31a)。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
暂无信息
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