[实用新型]一种芯片胶膜真空负压分离机构有效
申请号: | 202123307567.8 | 申请日: | 2021-12-27 |
公开(公告)号: | CN216902874U | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 刘世洪;彭勇;王钊;倪权;金郡;陈爽;陶高松 | 申请(专利权)人: | 池州华宇电子科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/683 | 分类号: | H01L21/683;H01L21/67 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 247100 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种芯片胶膜真空负压分离机构,包括底板、载膜板、同步带传动机构、滑槽、负压撕膜机构,所述的负压撕膜机构还包括卡板、气箱、吸嘴、撕膜板、滑块,将粘接由IC芯片的蓝膜防止与载膜板上并用胶带将其粘接在载膜板上,由于吸嘴的顶面与载膜板的顶面平齐,因此,蓝膜与吸嘴接触,随后,将气箱内抽成负压,吸嘴将蓝膜向下吸并与撕膜板接触,蓝膜在撕膜板内刮板部的作用以及负压的作用下向下凸起,因此,当同步带传动机构工作带动负压撕膜机构沿滑槽移动时,蓝膜与其上的芯片直接脱离。该装置结构简单,通过负压直接作用于蓝膜,能快速将蓝膜与芯片分离,避免芯片损坏,有效提高芯片的封装效率及良品率,且成本更低。 | ||
搜索关键词: | 一种 芯片 胶膜 真空 分离 机构 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造