[实用新型]一种基于氧化镓的半导体装置有效

专利信息
申请号: 202122902832.0 申请日: 2021-11-25
公开(公告)号: CN216528896U 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 广州华瑞升阳投资有限公司
主分类号: H01L29/24 分类号: H01L29/24;H01L29/41;H01L29/417;H01L23/373;H01L29/872;H01L29/861;H01L29/78;H01L29/739;H01L33/26;H01L33/42;H01L33/40;H01L21/44;H01L21/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510670 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种基于氧化镓的半导体装置,本实用新型通过对硅衬底进行图形化处理,在硅衬底上表面加工隔离带,将硅衬底层上表面分离出多个互不相连的六边形生长平台,然后在六边形生长平台上生长GaN薄膜层,再在GaN薄膜层上生长α‑Ga2O3薄膜层;硅衬底层上表面六边形生长平台的设计,使得在其上生长的GaN薄膜互不相连,实现晶格失配和热失配导致的应力在大面积范围内无法形成合力,化整为零,可大幅降低应力影响,制备出高品质的GaN薄膜;另外在GaN薄膜层上生长α‑Ga2O3薄膜层,避免了直接在硅衬底上生长α‑Ga2O3薄膜层,硅衬底层上表面被氧化生成氧化硅,从而影响薄膜质量的问题。
搜索关键词: 一种 基于 氧化 半导体 装置
【主权项】:
暂无信息
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