[实用新型]一种芯片验证装置有效

专利信息
申请号: 202122823275.3 申请日: 2021-11-17
公开(公告)号: CN217363089U 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 高以杰;甘杰;赵旭;张玉冰;牛桂新 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国网江西省电力有限公司;国家电网有限公司
主分类号: H04B17/00 分类号: H04B17/00
代理公司: 北京润平知识产权代理有限公司 11283 代理人: 高英英
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型实施例提供一种芯片验证装置,包括:基带模块、射频模块及机箱,所述基带模块和所述射频模块位于所述机箱内;所述基带模块包括FPGA;所述射频模块包括宽带收发器,所述宽带收发器的发射通道包括第一下变频器,所述宽带收发器的接收通道包括第二下变频器;所述基带模块通过所述射频模块与待测芯片通信连接,用于验证待测芯片的算法及数字逻辑功能。该装置既能在实验室也能在真实现场满足无线通信类芯片的物理层算法及逻辑功能的验证及测试。
搜索关键词: 一种 芯片 验证 装置
【主权项】:
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