[实用新型]测量装置及探测系统有效

专利信息
申请号: 202122489624.2 申请日: 2021-10-15
公开(公告)号: CN216285749U 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 潘晓明;邢峣 申请(专利权)人: 武汉联影生命科学仪器有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00;G01N23/00
代理公司: 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 代理人: 雷志刚
地址: 430206 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 本申请涉及成像技术领域,特别是涉及一种测量装置及探测系统,该测量装置包括基板,基板上开设有多个容置腔;多个待测模体,每个待测模体的材料不同,待测模体对应地安装容置腔内;驱动组件,驱动组件与基板连接;驱动组件带动基板运动,以切换不同的待测模体移动至位于检测区域。该测量装置用以提供多种不同材料的待测模体,可以满足多种临床和临床前探测器的性能测试,应用范围广范;在测试时驱动组件能够根据测试进程自动切换待测模体,提高测试效率,且可用于多次的重复测试,稳定度高;通过该测量装置对探测器进行测试,获得该探测器对多种不同材料K‑edge的鉴别能力,有利于提高K‑edge成像等能谱应用时能阈选择的准确性以及测试的工作效率和准确度。
搜索关键词: 测量 装置 探测 系统
【主权项】:
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