[实用新型]厚度传感装置及双面研磨设备有效

专利信息
申请号: 202122386188.6 申请日: 2021-09-29
公开(公告)号: CN215825098U 公开(公告)日: 2022-02-15
发明(设计)人: 康明;李运勇;严添悦;张博毅;王立伟 申请(专利权)人: 上海新昇半导体科技有限公司
主分类号: B24B37/005 分类号: B24B37/005;B24B49/00;B24B55/00;B24B37/08
代理公司: 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 代理人: 尤彩红
地址: 201306 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型提供一种厚度传感装置及双面研磨设备,用于双面研磨晶圆时测量所述晶圆的厚度,其特征在于,所述厚度传感装置包括两个厚度测量传感器以及两个冷却单元,每个所述厚度测量传感器具有一感测头,双面研磨晶圆时两个感测头相对设置于所述晶圆的两侧,所述冷却单元用于向所述感测头喷射冷却介质。在本实用新型中,利用设置于厚度测量传感器的感测头的冷却单元,在厚度传感测量过程中冷却感测头以减小其热形变,从而提高厚度传感装置测量晶圆厚度的准确性。
搜索关键词: 厚度 传感 装置 双面 研磨 设备
【主权项】:
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