[实用新型]一种用于半导体封装用应用治具的比对点数装置有效

专利信息
申请号: 202122101980.2 申请日: 2021-09-01
公开(公告)号: CN215728543U 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 奚志成 申请(专利权)人: 东莞海和科技有限公司
主分类号: G01R31/01 分类号: G01R31/01;G01R31/26
代理公司: 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 44504 代理人: 李岱
地址: 523430 广东省东莞市寮步镇仁居路1号松湖智谷研发中心1*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及半导体封装技术领域,且公开了一种用于半导体封装用应用治具的比对点数装置,包括斜板、调节机构和第一侧板,所述斜板的上表面前端固定连接有第一侧板,所述调节机构设置于斜板的底部左壁上,所述调节机构包括第一固定板、内螺纹孔。该一种用于半导体封装用应用治具的比对点数装置,通过在生产前将治具放在工作台上,生产时将已经测试过的整管产品放入到斜板上,一排放置25管,目视检查每一管里面的产品的高度是否一致,如果有不一致的管取出确认差异,并分析问题原因,如果全部一致,代表产品没有少或者多数,可以直接结单,不需要进行人工清点,有没有少或多数,一目了然,提高了半导体封装的效率,减少误差,降低人工成本。
搜索关键词: 一种 用于 半导体 封装 应用 点数 装置
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