[实用新型]一种芯片测试设备防辐射装置有效
| 申请号： | 202122092309.6 | 申请日： | 2021-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN215450923U | 公开（公告）日： | 2022-01-07 |
| 发明（设计）人： | 陈荣峰 | 申请（专利权）人： | 厦门新晟义集成电路有限公司 |
| 主分类号： | G21F3/00 | 分类号： | G21F3/00 |
| 代理公司： | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人： | 刘英 |
| 地址： | 361010 福建省厦门市中国(福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片测试设备防辐射装置，属于芯片测试技术领域，其技术方案要点包括底板，所述底板的顶部固定连接有四个立柱，所述底板的顶部设置有防辐射机构，所述防辐射机构的顶部固定连接有顶板，所述顶板的底部固定连接有伸缩缸，所述伸缩缸的底部固定连接有托板，通过设置底板，对上方结构进行支撑和安装，立柱对装置的防辐射机构进行安装，在正常使用的时候，将需要检测的芯片放置在测试设备本体的测试位置并且启动测试设备本体对芯片进行测试，测试的过程中向外部产生辐射，而辐射在经过防辐射侧板和前门的时候会被隔绝大部分，避免对周围未穿戴防辐射服的人员和长时间进行测试工作的人员造成辐射伤害。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 设备 防辐射 装置 | ||
【主权项】：
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