[实用新型]一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置有效
| 申请号： | 202121847541.X | 申请日： | 2021-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN218068039U | 公开（公告）日： | 2022-12-16 |
| 发明（设计）人： | 娄永国;娄海峰;张传清 | 申请（专利权）人： | 深圳市炬鑫光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区大浪街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于光接收器件加工的芯片固晶检验装置，包括检验装置和支撑平台，所述支撑平台位于检验装置的顶部，所述检验装置的顶部固定连接有支撑柱，所述支撑柱的顶部开设有伸缩孔，所述伸缩孔的内部插接有伸缩杆，所述伸缩杆的顶部与支撑平台的底部固定连接，所述伸缩杆的两侧均开设有限位槽。本实用新型通过设置检验装置、支撑平台、固定块、限位组件和调节组件的配合使用，使用者通过向靠近固定块的一侧推动按压块，通过按压块与调节组件之间的配合使限位杆离开限位槽的内部，之后便可以对支撑平台位置进行调节，最后通过限位组件进行定位，解决了现有固晶检验装置难以对需要检测物品位置进行调节的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 接收 器件 加工 芯片 检验 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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