[实用新型]一种半导体MOS场效应管有效

专利信息
申请号: 202121664099.7 申请日: 2021-07-21
公开(公告)号: CN214898397U 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 覃德益 申请(专利权)人: 深圳市德芯微电子有限公司
主分类号: H01L23/10 分类号: H01L23/10;H01L23/367;H01L29/78
代理公司: 深圳市汉瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 44766 代理人: 李航
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种半导体MOS场效应管,包括壳座,所述壳座中放置有MOS场效应管本体,所述壳座的顶面盖合有盖板,所述壳座的顶面两侧均开设有延伸至其边缘处的槽口,所述盖板的底面连接有支杆,所述支杆上螺纹贯穿有用于固定在槽口内侧面上的固定栓,所述盖板的底面还设置有用于抵触在MOS场效应管本体上的抵触块,从而在较少的结构下依然能够保证整体的规整性,降低制造成本,且整体的可拆性以及封闭性较好,使其方便方便进行拆分维护操作,同时也能够保证提整体散热特性。
搜索关键词: 一种 半导体 mos 场效应
【主权项】:
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