[实用新型]一种射频前端芯片的动态测试装置有效
| 申请号： | 202121295785.1 | 申请日： | 2021-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN215116507U | 公开（公告）日： | 2021-12-10 |
| 发明（设计）人： | 孙凯;郑新年;柯庆福 | 申请（专利权）人： | 晋江三伍微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/16 | 分类号： | G01R23/16;G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 泉州市兴博知识产权代理事务所(普通合伙) 35238 | 代理人： | 易敏 |
| 地址： | 362200 福建省泉州市晋江市罗山*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种射频前端芯片的动态测试装置。本实用新型要解决的技术问题是提供一种能够对射频芯片进行方便快捷的测试，且测试完毕后容易拆卸，不会损伤射频芯片，同时使得测试结果更准确一致的射频前端芯片的动态测试装置。一种射频前端芯片的动态测试装置，包括有频谱分析仪、底座、指示表、启动按钮、调节旋钮、底盖、上盖、抓握板、定位块、压块、定位轴段、测试电路板、探针、微带线和射频同轴连接器。本实用新型达到了对射频芯片进行方便快捷的测试，且测试完毕后容易拆卸，不会损伤射频芯片，同时使得测试结果更准确一致的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 前端 芯片 动态 测试 装置 | ||
【主权项】：
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