[实用新型]集成电路批量测试底座有效
| 申请号： | 202121290954.2 | 申请日： | 2021-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN215340192U | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 沈巧琳;徐春雷;丁向东 | 申请（专利权）人： | 深圳市英赛尔电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人： | 谭雪婷;彭西洋 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种集成电路批量测试底座，包括：长条形底座和活动连接在长条形底座上的长条形翻盖。长条形底座的外壁上沿其长度方向嵌入有若干测试块，测试块上设有若干测试脚垫。长条形底座上设有与若干测试脚垫电性连接的测试电路板，测试电路板与外部的测试主机连接。长条形翻盖的第一长边铰接在长条形底座上，长条形翻盖的第二长边可卡接在长条形底座上。长条形翻盖上设有与若干测试块一一对应的容置通孔，容置通孔的内壁设有与若干测试脚垫一一对应的台阶槽。本实用新型的有益效果：可一次性固定多个集成电路，实现批量测试，大大提高了生产效率。整体结构简单，制作成本低，且固定集成电路时更方便，进一步提高了生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 批量 测试 底座 | ||
【主权项】：
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