[实用新型]一种芯片老化测试装置有效
| 申请号： | 202120811898.6 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN214703883U | 公开（公告）日： | 2021-11-12 |
| 发明（设计）人： | 王少花 | 申请（专利权）人： | 优普士电子（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人： | 李捷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华新区大浪*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种芯片老化测试装置，包括老化箱本体、测试腔和密封门，所述老化箱本体上端的一侧开设有测试腔，所述老化箱本体位于测试腔的外侧通过铰链转动连接有密封门，所述测试腔的内壁对称等距固定有滑轨，所述测试腔的内部等距滑动连接有测试板，所述测试板与滑轨的内壁滑动连接，所述测试板上表面远离密封门的一侧固定有第一插头，所述测试腔的内壁等距安装有第一插口，所述第一插头与第一插口插接，所述第一插口的一端通过导线电性连接有第二插头，本实用新型在多次进行老化测试过后，在第一插口发生损坏时，能够方便人们对第一插口进行更换，有效的提高了更换速度，节省了维修时间，方便人们使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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