[实用新型]半导体跌落试验机有效
| 申请号： | 202120780441.3 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN214583944U | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 吴旭艳 | 申请（专利权）人： | 上海长肯试验设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M7/08 | 分类号： | G01M7/08 |
| 代理公司： | 北京沃知思真知识产权代理有限公司 11942 | 代理人： | 高小艳 |
| 地址： | 201306 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了半导体跌落试验机，包括底座，所述底座顶部设有跌落面板，所述跌落面板内壁顶端开设有凹槽，所述跌落面板顶部四角处设有固定杆，所述固定杆顶部设有盖板，所述盖板底部中轴线处设有转动杆，所述转动杆外壁中轴线处套接有传动齿轮，所述传动齿轮与转动杆固定连接，所述转动杆外壁两侧均套接有固定套。本实用新型通过升降机构与跌落机构的相互配合，带动活动杆转动，使承重板快速翻转至竖直，包装件于瞬间垂直向下跌落，从而保证式在目标高度样自由摔落至跌落面板上，完成实验任务，本实用新型为全自动化完成定向跌落试验，大大降低了劳动强度，提高包装件跌落试验的精确性和保证极高的工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 跌落 试验 | ||
【主权项】：
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