[实用新型]X射线对位校准装置及X射线成像检测装置有效

专利信息
申请号: 202120750290.7 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN214622396U 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 张孝平;文青松;周三元;莫凡;李青松 申请(专利权)人: 深圳市川金自动化技术有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 44334 代理人: 赵文曲
地址: 518126 广东省深圳市航*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种X射线对位校准装置,包括发射器、接收器、对位发射器及对位接收器,发射器用于发射X射线,接收器用于接收X射线,对位发射器连接于发射器用于发射光束,对位接收器连接于接收器用于接收对位发射器发射的光束,调节发射器与接收器的位置,当对位接收器接收到对位发射器发射的光束后,发射器与接收器对齐。一种X射线成像检测装置,包括接收驱动组件及发射驱动组件及上述的X射线对位校准装置,接收驱动组件用于驱动接收器移动,发射驱动组件用于驱动发射器移动。上述X射线对位校准装置及上述X射线成像检测装置实现了感知发射器与接收器对齐的目的。
搜索关键词: 射线 对位 校准 装置 成像 检测
【主权项】:
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