[实用新型]IGBT模块高温反偏老化测试系统有效
| 申请号: | 202120701864.1 | 申请日: | 2021-04-07 |
| 公开(公告)号: | CN214703868U | 公开(公告)日: | 2021-11-12 |
| 发明(设计)人: | 刘年富 | 申请(专利权)人: | 杭州高裕电子科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司: | 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 | 代理人: | 沈相权;金磊 |
| 地址: | 311107 浙江省杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | 本实用新型属于IGBT检测技术领域,尤其为IGBT模块高温反偏老化测试系统,包括测试器主体,测试器主体的前端面转动安装有转门,转门的前端面转动安装有把手,第二支撑柱与固定块均呈矩形阵列分布于测试器主体的下端面,转门靠近测试器主体的一侧镶嵌有调节屏,测试器主体的内侧面焊接有支撑板,第二支撑柱的上端面镶嵌有上部支撑板,上部支撑板的下端面焊接有伸拉块,伸拉块的内侧面滑动安装有长轴。本实用新型通过设置长轴,拉动夹体向外拉出,将IGBT模块放入夹体中即可,节约了大量的时间,通过设置支撑块,将设备移动到合适位置后,转动支撑块将设备进行固定,避免因设备固定不稳导致IGBT测试时测量不准确。 | ||
| 搜索关键词: | igbt 模块 高温 老化 测试 系统 | ||
【主权项】:
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