[实用新型]一种老化测试装置有效
| 申请号： | 202120432756.9 | 申请日： | 2021-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN214585837U | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 高伟;何健僖 | 申请（专利权）人： | 深圳康佳电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/44;G01R1/04 |
| 代理公司： | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人： | 谢松 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种老化测试装置，用于发光元件，其中，包括母板和子板，所述子板可拆卸设置于所述母板上，且所述子板上设有所述发光元件；所述子板与所述母板电连接，所述子板用于向所述发光元件输入电信号。本申请的老化测试装置通过设置与母板可拆卸设置的子板电连接来对子板上的发光元件进行老化测试，可以自由选择不同尺寸的子板与母板连接，使测试过程中不仅驱动电流和环境温度可控，还可以进一步控制发光元件的散热条件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
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