[实用新型]可自我监测和远程控制的免回测集成电路老化测试系统有效
| 申请号： | 202120328296.5 | 申请日： | 2021-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN215375664U | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | 毕勤;何巍;潘宇 | 申请（专利权）人： | 钜泉光电科技（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01D21/02 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人： | 谢清萍;何春晖 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区自*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请提供可自我监测和远程控制的免回测集成电路老化测试系统。所述系统包括信息采集模块、可调电源、上位机和Web服务器，信息采集模块采集被测集成电路的电压、电流等信息，被测集成电路在高低温箱中进行老化试验；可调电源用于为被测集成电路供电；上位机与信息采集模块连接，接收被测集成电路的电压、电流等，与可调电源通过串口连接，进行状态读取和供电控制；Web服务器通过局域网与上位机进行通信，访问上位机的数据，控制高低温箱和可调电源。本实用新型实时监测集成电路的老化测试状态，节约回测人力资源，避免浪费老化时间；且通过Web服务器将串口等近程通信接口转为远程通信接口，可远程控制老化试验。 | ||
| 搜索关键词： | 自我 监测 远程 控制 免回测 集成电路 老化 测试 系统 | ||
【主权项】：
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