[实用新型]一种批量IC模块测试治具有效

专利信息
申请号: 202120224839.9 申请日: 2021-01-26
公开(公告)号: CN214539828U 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 谢后勇 申请(专利权)人: 深圳芯经纬科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518110 广东省深圳市龙华区观澜街道大*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开了一种批量IC模块测试治具,包括支撑底座与固定框,包括检测机体,所述检测机体的内部下表面固定安装有传动轨道,所述传动轨道的内部下表面固定安装有驱动机构,所述检测机体的内部位于传动轨道的两侧位置处固定安装有固定底座,所述传动轨道的上方活动安装有固定支架,所述传动轨道的内部活动安装有滑动模块。本实用新型所述的一种批量IC模块测试治具,能够有效地固定待检测的IC模块,通过控制定子线圈产生磁场,对滑动模块产生吸引或排斥磁力,进而改变滑动模块的位置,能够控制固定支架升降,进而控制检测面板对IC模块进行检测,并将检测的结果写入RFID模块,方便员工进行更换,提高了测试效率,解放了劳动力。
搜索关键词: 一种 批量 ic 模块 测试
【主权项】:
暂无信息
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