[实用新型]一种偏光片的缺陷检测装置有效
| 申请号： | 202120199202.9 | 申请日： | 2021-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN215492363U | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 苏博 | 申请（专利权）人： | 深圳市德宏电子有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙) 44411 | 代理人： | 曹勇 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种偏光片的缺陷检测装置，属于偏光片缺陷检测技术领域，包括底板，所述底板顶部的一侧安装有第一电磁滑轨，所述第一电磁滑轨的一端活动连接有滑动块，所述滑动块的一侧安装有第二电磁滑轨，所述第二电磁滑轨的一侧活动连接有灯罩，所述灯罩靠近滑动块的一侧设置有与第二电磁滑轨相匹配的滑块。本实用新型通过将待测物件插在第一卡件内，然后将墨色IN面板插在第二卡件内，然后灯罩内部的灯泡散射出的光线直接照射在待测物件表面，经过待测物件投射至墨色IN面板上，利用墨色IN面板将反射的光线强度放大，并利用标尺和标线使肉眼的观测更为清晰，从而可准确观测到光线分散的范围，在一定程度上降低了观测的难度，提高了准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 偏光 缺陷 检测 装置 | ||
【主权项】：
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