[实用新型]一种微小极距高精度介质表层电阻率测试仪有效

专利信息
申请号: 202120132448.4 申请日: 2021-01-19
公开(公告)号: CN214097626U 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 李红立;樊香所;陈华金;覃觅觅 申请(专利权)人: 广西科技大学
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R1/04;G01R1/067
代理公司: 西安汇恩知识产权代理事务所(普通合伙) 61244 代理人: 张延长
地址: 545006 广西壮族自*** 国省代码: 广西;45
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摘要: 实用新型公开了一种微小极距高精度介质表层电阻率测试仪,包括测试仪主体和探针,所述测试仪主体顶端远离所述凹槽的一端开设有空腔,所述空腔内对称设有固定块,所述固定块远离所述空腔的一端开设有弧形槽,所述弧形槽上等距设有复位弹簧,所述复位弹簧远离所述固定块的一端固定设有弧形限位板,所述弧形限位板上设有防滑垫,所述探针上固定设有限位环,所述限位环上开设有限位槽,所述空腔顶端通过滑动机构滑动连接有保护盖。本实用新型通过将测试导线和探针分别进行收纳,有效的避免缠绕,避免在不使用时探针暴露在外界环境中,一方面不方便携带,另一方面不能对其进行保护,容易造成损坏,影响探针的灵敏度,影响测量结果。
搜索关键词: 一种 微小 高精度 介质 表层 电阻率 测试仪
【主权项】:
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