[发明专利]测量直流参数的电路、方法及系统在审

专利信息
申请号: 202111653042.1 申请日: 2021-12-30
公开(公告)号: CN114325331A 公开(公告)日: 2022-04-12
发明(设计)人: 刘磊;胡志臣;杨立杰;武福存;储艳莉;刘文旭;黄月芳;王红宇 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 韩月玲
地址: 100041 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请涉及一种测量直流参数的电路、方法及系统,该电路包括主控单元、通道控制单元以及模数/数模转换单元;通道控制单元包括PMU通道,PMU通道的数量为至少一个;PMU通道包括PMU芯片电路以及输出放大电路,输出放大电路与PMU芯片电路连接,输出放大电路用于放大PMU芯片电路的输出电压,以增加PMU通道的量程;主控单元与模数/数模转换单元连接,主控单元与通道控制单元连接,模数/数模转换单元与通道控制单元连接,通道控制单元与待测IC芯片连接。本申请通过在通道控制单元中设置输出放大电路以及至少一个PMU通道,来增加PMU通道的量程,解决测量量程较少的问题,提高IC测试的便利性。
搜索关键词: 测量 直流 参数 电路 方法 系统
【主权项】:
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