[发明专利]III族氮化物半导体材料的制备方法在审
申请号: | 202111651536.6 | 申请日: | 2021-12-30 |
公开(公告)号: | CN114293249A | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 吴华龙;何晨光;张康;贺龙飞;赵维;廖乾光;刘云洲;陈志涛 | 申请(专利权)人: | 广东省科学院半导体研究所 |
主分类号: | C30B25/14 | 分类号: | C30B25/14;C30B25/16;C30B29/40 |
代理公司: | 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙) 11400 | 代理人: | 李彬彬;陈莉娥 |
地址: | 510651 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种III族氮化物半导体材料的制备方法,其包括在生长完第M层III族氮化物材料层后的升温阶段或降温阶段,在保持反应腔内氮源气体和反应载气的持续通入的同时,至少将生长第M层III族氮化物材料层所用的III族原料源中的与氮原子成键键能最弱的III族原料源通入反应腔中,其中,M≥1,M为整数。由此,可以提高制得的第M层III族氮化物材料层的界面处键能较弱原子的浓度,减弱键能较弱原子的分解,使界面处金属原子比例维持不变,进而防止第M层III族氮化物材料层的界面处的组分发生畸变。 | ||
搜索关键词: | iii 氮化物 半导体材料 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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