[发明专利]石英晶体微量天平测控装置及测量方法在审
| 申请号： | 202111631424.4 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114323215A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 张延顺;蒋燕飞;周晓东;吴晓鹏;景加荣;黄佳荣 | 申请（专利权）人： | 上海裕达实业有限公司 |
| 主分类号： | G01G5/00 | 分类号： | G01G5/00 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊 |
| 地址： | 200245 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种石英晶体微量天平测控装置及测量方法，包括：石英晶体微量天平控制器和探头传感器；所述石英晶体微量天平控制器包括控制器机箱，控制器机箱内设有预设通道频率测量模块、温度控制模块、固态继电器、开关电源、通信转换模块和触摸屏；所述温度控制模块与所述通信转换模块连接；所述触摸屏、所述频率测量模块以及所述通信转换模块相互连接；所述温度控制模块与所述固态继电器连接；所述开关电源为控制器机箱内各模块供电；所述探头传感器位于测试环境中，且与所述石英晶体微量天平控制器连接。 | ||
| 搜索关键词： | 石英 晶体 微量 天平 测控 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
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