[发明专利]一种基于统计的低对比度缺陷的识别方法在审
| 申请号： | 202111624482.4 | 申请日： | 2021-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN114418961A | 公开（公告）日： | 2022-04-29 |
| 发明（设计）人： | 刘浩栋 | 申请（专利权）人： | 上海帆声图像科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/136 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201206 上海市浦东新区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于统计的低对比度缺陷的识别方法，包括以下步骤：步骤S1：输入待检测图像；步骤S2：按照列和行分别计算灰度值的最大值、平均值和标准差并进行拟合；步骤S3：根据拟合的结果确定分割阈值并划定缺陷范围；步骤S4：对缺陷进行闭运算连接缺陷，按照面积从大到小对缺陷进行排序最终输出缺陷，本发明解决了当缺陷成像弱、或者缺陷成像和背景差不都的时候，现有的阈值分割算法很难将缺陷提起全或者提取不到的问题，本发明对缺陷成像弱、缺陷和背景不明显的缺陷具有很好的抓取效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 统计 对比度 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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