[发明专利]测试装置在审
| 申请号： | 202111619098.5 | 申请日： | 2021-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN115267480A | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 郝康赟;江京;周德祥;郝宇昊;魏莉玲 | 申请（专利权）人： | 天芯互联科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 刘桂兰 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了测试装置，其中，测试装置包括：母板，母板上设置有多个测试区域；多个子板，各子板分别包括可拆卸连接的芯片安装电路板以及外围电路集成电路板；各子板分别通过芯片安装电路板与母板上的一测试区域对应可拆卸连接。通过上述结构，本申请的测试装置能够利用芯片安装电路板以及外围电路集成电路板的可拆卸连接，灵活更换芯片安装电路板和外围电路集成电路板以应对不同的芯片测试，从而避免整个更换整个子板才能实现不同芯片的测试，提高测试装置的兼容性，进而降低子板制造成本和时长，并提高芯片测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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