[发明专利]一种控制示踪粒子供给的装置有效

专利信息
申请号: 202111610392.X 申请日: 2021-12-27
公开(公告)号: CN114487474B 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 石保禄;王宽宇;曹青;李鹏昌;唐勇;赵马杰 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01P5/20 分类号: G01P5/20;G01M9/00;G01M10/00
代理公司: 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 张利萍
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的一种控制示踪粒子供给的装置,属于流场光学测试领域。本发明包括流化腔、出口管道、滑道、滑块、滑块移动操作杆、储箱、端盖。流化腔与滑道以及出口端盖与储箱之间采用密封螺连接,方便流化腔的清洗和示踪粒子的装填。滑块可在滑道内移动,隔断或连通储箱与流化腔的内部空间,控制示踪粒子进入流化腔。滑块与出口管道之间预留缝隙用于在滑块闭合状态下平衡储箱与流化腔的气压。本发明充分利用机械结构的空间隔离作用与气动流化供给粒子的均匀性特点,在不影响流场结构的同时,精准控制示踪粒子供给的初始时间,实现示踪粒子的长时间稳定均匀的供给,且能够避免测试前示踪粒子透明观察窗的污染,提高测试效率和测试结果的可靠性。
搜索关键词: 一种 控制 粒子 供给 装置
【主权项】:
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