[发明专利]一种射频数字T/R组件综合测试系统的校准系统和校准方法在审
| 申请号： | 202111601007.5 | 申请日： | 2021-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN114172592A | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 杨忠;楼红英;陈效杰;沈保龙;金成 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
| 主分类号： | H04B17/00 | 分类号： | H04B17/00;H04B17/11;H04B17/21 |
| 代理公司： | 北京铸成博信知识产权代理事务所(普通合伙) 16016 | 代理人： | 张广宇 |
| 地址： | 210039 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种射频数字T/R组件综合测试系统的校准系统和方法，校准系统由定向耦合器、脉冲功率计、多通道传递标准装置、标准模拟件（小功率衰减器、移相器）以及标准数字码元发生器组成。运用定向耦合器采用耦合比法对测试系统脉冲中大功率进行校准；研建多通道传递标准装置，采用传递法对测试系统发射、接收模拟量进行校准；运用标准模拟件，采用插入法对测试系统接收通道数字数字幅相一致性进行校准；研建数字码元发生器，对测试系统数字性能进行验证。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 数字 组件 综合测试 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
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