[发明专利]一种测试用例生成方法及装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202111572818.7 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN114328201A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈阳 | 申请（专利权）人： | 京东科技信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王治东 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供一种测试用例生成方法及装置、电子设备和存储介质。其中，所述方法包括，确定目标业务系统，并确定组成目标业务系统的原子模块，基于原子模块，生成第一配置集；其中，第一配置集包含多个第一取值组合；将具有依赖关系的原子模块对应的第一取值组合分别输入至测试用例模型集，生成目标业务系统对应的目标测试用例集。本公开提供的测试用例生成方法，通过将具有依赖关系的原子模块对应的第一取值组合分别输入至测试用例模型集，自动生成目标测试用例集，避免了通过手动编写测试用例时可能出现的问题，以及因利用常规的测试用例生成技术生成的测试用例仅适用于特定编程语言和/或特定业务系统的情况发生，提高了其通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 生成 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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