[发明专利]量子阱发光层结构、生长方法及外延片有效

专利信息
申请号: 202111534813.5 申请日: 2021-12-15
公开(公告)号: CN114242861B 公开(公告)日: 2022-10-11
发明(设计)人: 闫其昂;王国斌 申请(专利权)人: 江苏第三代半导体研究院有限公司
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/06;H01L33/00
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 王广浩
地址: 215101 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种量子阱发光层结构的生长方法,包括:S1、在具有n型外延层的基底上生长InGaN量子阱层;S2、在InGaN量子阱层上生长GaN量子垒层;S3、交替重复S1和S2,形成周期性交替生长的InGaN量子阱层和GaN量子垒层;S4、在最后一层InGaN量子阱层上分N个连续的时间段生长GaN量子垒层;后一时间段中GaN量子垒层的生长温度小于等于相邻前一时间段中GaN量子垒层的生长温度;在每个GaN量子垒层生长时掺In的时间段中,In源流量随时间线性降低。本发明通过将最后一个GaN量子垒层分段生长且掺In组分渐变,促进了p型层空穴注入到量子阱发光层,降低了最后一个量子阱层中的激化效应,改善电子和空穴交叠,提高量子阱的发光效率,改善大电流下的droop效应。
搜索关键词: 量子 发光 结构 生长 方法 外延
【主权项】:
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