[发明专利]exp可用性验证方法、装置、电子设备和可读存储介质在审
| 申请号： | 202111520274.X | 申请日： | 2021-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN114254326A | 公开（公告）日： | 2022-03-29 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京知道未来信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/57 | 分类号： | G06F21/57 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王思楠 |
| 地址： | 100082 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种exp可用性验证方法、装置、电子设备和可读存储介质，通过根据项目需求信息从公开漏洞库包含的多个exp中确定目标exp，基于目标exp进行编写得到对应的编写exp，该编写exp为按照项目所需的编程语言进行编写。并利用预先训练得到的预训练模型对目标exp进行分析处理得到对应的返回报文，构建编写exp的返回报文，并比对目标exp的返回报文和编写exp的返回报文，以判断编写exp的可用性。本申请中，采用训练得到的预训练模型以生成返回报文，可以应对种类繁多且数量较多的exp的批量处理，降低对于技术人员的技术要求，且提升验证处理效率。 | ||
| 搜索关键词： | exp 可用性 验证 方法 装置 电子设备 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
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