[发明专利]一种测试芯片中外围电路的设计方法及其测试芯片在审
| 申请号： | 202111501691.X | 申请日： | 2021-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN114487796A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | 蓝帆;潘伟伟;杨慎知;郑勇军 | 申请（专利权）人： | 杭州广立微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;H01L23/544 |
| 代理公司： | 江苏坤象律师事务所 32393 | 代理人： | 赵新民 |
| 地址： | 浙江省杭州市西湖区西斗*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试芯片中外围电路的设计方法，包括：获取测试芯片中器件的器件阵列信息、以及器件中选定的待测器件信息；确定用于摆放外围电路的外围电路区域；基于器件阵列的边缘行或/和边缘列设计外围电路；在外围电路区域，为位于边缘行或/和边缘列中的待测器件配置对应的外围电路单元，通过连接线将待测器件与对应的外围电路单元相连形成外围电路。该技术方案有益效果在于，该方法结合考虑器件阵列和外围电路单元进行协同规划，以优化外围电路的摆放设计，能在不影响外围电路的功能和性能的基础上，提升测试芯片的器件密度。还提供一种测试芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 外围 电路 设计 方法 及其 | ||
【主权项】：
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