[发明专利]样本分析方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202111452469.5 | 申请日： | 2021-12-01 |
| 公开（公告）号： | CN116203225A | 公开（公告）日： | 2023-06-02 |
| 发明（设计）人： | 甘泉;黎伟禧 | 申请（专利权）人： | 深圳市理邦精密仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/536 | 分类号： | G01N33/536;G01N33/68;G01N15/00;G01N15/10 |
| 代理公司： | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人： | 何倚雯 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了样本分析方法、装置及系统。该样本分析装置包括：第一分析组件、第二分析组件和控制电路。其中，第一分析组件用于按照目标项目对待测样本进行分析，得到检测结果；第二分析组件用于对待测样本进行分析得到修正参数或者得到修正参数的中间测量参数；控制电路与第一分析组件和第二分析组件连接，用于利用修正参数或者利用中间测量参数对检测结果进行修正。通过上述方式，能够减少样本分析所需设备占据的空间。 | ||
| 搜索关键词： | 样本 分析 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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