[发明专利]一种单面电镀工艺中印刷掩膜后开槽的设备及方法在审
| 申请号: | 202111443866.6 | 申请日: | 2021-11-30 |
| 公开(公告)号: | CN113964243A | 公开(公告)日: | 2022-01-21 |
| 发明(设计)人: | 李科伟;马敏杰;俞超;宋楠;马擎天 | 申请(专利权)人: | 环晟光伏(江苏)有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/67;C25D5/02;C25D7/12 |
| 代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
| 地址: | 214200 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | 本发明提供一种单面电镀工艺中印刷掩膜后开槽的设备及方法,包括:依次设置的用于处理硅片的水蒸汽腔、第一烘干腔、酸性气体腔、第一纯水清洗槽、碱洗槽、第二纯水清洗槽和第二烘干腔;所述水蒸汽腔、所述第一烘干腔、所述酸性气体腔、所述第一纯水清洗槽、所述碱洗槽、所述第二纯水清洗槽和所述第二烘干腔内均设置有传送滚轮,所述传送滚轮被设置为放置和传输硅片。本发明的有益效果是通过气相酸雾去除未被掩膜覆盖区域的钝化膜,从而极大降低掩膜材料对耐酸性的要求;HF气体将会溶解到硅片所沾水的部分形成HF,HF对钝化膜进行腐蚀,可以通过控制HF的溶解量来控制腐蚀速度,可以相对精确控制释放的酸的量,减少酸的耗量。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 单面 电镀 工艺 印刷 掩膜后 开槽 设备 方法 | ||
【主权项】:
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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