[发明专利]一种电子元器件寿命预测方法在审
| 申请号： | 202111442499.8 | 申请日： | 2021-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN114091347A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 魏自强;班元郎;王文玺 | 申请（专利权）人： | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| 主分类号： | G06F30/27 | 分类号： | G06F30/27;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08;G06N20/00;G06F119/04 |
| 代理公司： | 贵阳中新专利商标事务所 52100 | 代理人： | 商小川 |
| 地址： | 550009 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元器件寿命预测方法，它包括：收集批次元器件输入的测试数据、元器件贮存环境数据、寿命试验数据和特性测试数据，得到寿命预测的数据源；将寿命预测的数据源数据进行数据融合，得到数据融合数据文件；得到干净结构化数据文件；利用主成分分析法对元器件数据进行降维，利用核独立成分提取元器件数据的非线形特征获得元器件的特征参数；模型构建：建立BP神经网络预测模型；通过权值初始化，训练数据集，并验证数据集指标；检测是否到达预测精度，未达到预测精度则进行参数调整返回模型训练；测试集数据输入训练好的模型得到预测结果；解决了现有技术对电子元器件寿命预测中受限于寿命预测的成本及时间等计算问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子元器件 寿命 预测 方法 | ||
【主权项】：
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