[发明专利]基于GRE图像和磁纳米粒子的温度测量方法及系统有效
申请号: | 202111423713.5 | 申请日: | 2021-11-26 |
公开(公告)号: | CN114199405B | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 王帅;彭浩;刘文中 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01K7/36 | 分类号: | G01K7/36;G01N24/08 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 夏倩;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于GRE图像和磁纳米粒子的温度测量方法及系统,属于纳米材料测试技术领域,包括:将磁纳米粒子导入待测对象,得到待测样品,并在已知温度下获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像,作为对应TE时间下的参考图像;多个TE时间包含预先确定的目标TE时间;在目标时刻,获取待测样品在多个TE时间下的GRE图像,计算待测样品在各TE时间下的图像相位差ΔΦ和图像幅值变化,并拟合T2*弛豫时间;根据预先标定的相位差与磁纳米粒子浓度和温度的对应关系f(C,T)、T2*弛豫时间与磁纳米粒子浓度和温度的对应关系g(C,T),建立模型: |
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搜索关键词: | 基于 gre 图像 纳米 粒子 温度 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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