[发明专利]一种校正坏点的方法、装置、终端及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 202111409731.8 | 申请日： | 2021-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN116193281A | 公开（公告）日： | 2023-05-30 |
| 发明（设计）人： | 黄晟;方磊;周宇;马庆 | 申请（专利权）人： | 武汉高德智感科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N25/60 | 分类号： | H04N25/60;H04N23/81;H04N23/20 |
| 代理公司： | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 | 代理人： | 张腾 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例公开了一种校正坏点的方法、装置、终端和计算机可读存储介质，该方法包括：判断初始图像中的疑似坏点；得到第一疑似坏点表；由实时生成的相邻前后两帧图像得到第二疑似坏点表；基于当前的第一疑似坏点表与第二疑似坏点表中疑似坏点的非重复区域对的第一疑似坏点表进行更新；重复执行上述步骤，得到最终的第一疑似坏点表进行坏点校正。本方案中，基于成像设备生成的图像中，坏点在运动过程中与正常像素点之间的表现差异，以图像识别与处理的方式定位坏点的位置，进而对坏点进行校正，实现了自动校正，不需要手动操作，实时性高，节省时间；且不受对成像设备进行坏点校正的操作条件限制，通用性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 校正 方法 装置 终端 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉高德智感科技有限公司，未经武汉高德智感科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111409731.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
