[发明专利]综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备在审
| 申请号： | 202111381927.0 | 申请日： | 2021-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN114200448A | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 胡飞;付鹏;朱冬;苏金龙 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S13/88;G06F17/14 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 胡秋萍 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种综合孔径辐射计波数域近场成像方法及设备，属于毫米波辐射探测领域，方法包括：利用综合孔径辐射计的天线阵列测量近场目标区域的亮温分布，以生成相应的四维近场可见度函数；对四维近场可见度函数进行傅里叶变换以实现波数域分解，得到四维近场可见度函数中的四维波数域信息；对四维波数域信息进行距离向相位补偿以去除距离向耦合，得到二维波数域数据；对二维波数域数据进行傅里叶变换或傅里叶反变换，以生成近场目标区域的反演图像。实现综合孔径毫米波辐射计平面阵列近场高分辨率、高精度、大视场成像，以及实现综合孔径无距离信息近场成像，推动综合孔径被动毫米波成像技术在近场成像领域中的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 综合 孔径 辐射计 波数域 近场 成像 方法 设备 | ||
【主权项】：
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