[发明专利]光学级磷酸二氢钙中杂质元素含量的测定方法在审
| 申请号： | 202111339574.8 | 申请日： | 2021-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN114002205A | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 姜朋飞;徐小峰;程龙;秦明升 | 申请（专利权）人： | 上海太洋科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/73 | 分类号： | G01N21/73;G01N1/40 |
| 代理公司： | 上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297 | 代理人： | 邓文武 |
| 地址： | 201906 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及化学分析领域，公开了一种光学级磷酸二氢钙中杂质元素含量的测定方法，包括以下步骤：S1、称取光学级磷酸二氢钙样品，溶解，得到样品溶液；S2、向样品溶液中加入硫酸根离子，经搅拌加热、冷却、静置，得到静置液；S3、过滤静置液，得到滤液；S4、向滤液中加入铁盐，调节pH，静置过滤，收集滤液；S5、加热滤液浓缩，过滤定容，得到检测样品液；S6、使用ICP‑OES对检测样品液杂质元素浓度测定，得到检测样品液杂质元素浓度；S7、对检测样品液杂质元素浓度进行换算，得到光学级磷酸二氢钙样品中杂质元素的含量。本申请具有能快速、准确、经济的测出光学级磷酸二氢钙中铜、钴、锰、铬、镍杂质元素含量的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 磷酸 二氢钙中 杂质 元素 含量 测定 方法 | ||
【主权项】：
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