[发明专利]基于波面干涉信息的透镜测试方法

摘要

本发明提供一种基于波面干涉信息的透镜测试方法，包括下列步骤，设置氦氖激光器光源以便产生平行光；将所述平行光分成两路，一路作为参考光，一路作为物光；打开所述物光，在所述物光光路上放置透镜样品，通过SH传感器测量所述透镜样品折射率；获得放入被测样品前后的差异，计算获得样品内折射率偏差；使用CCD采集所述参考光和所述物光产出的干涉图像；按顺序叠加所述重建的图像，形成三维图像；本发明的测试方法能够实现对对非规则立体的、平板的、均匀的、非均匀的光学元件折射率分布进行细致化测量。