[发明专利]球栅阵列的缺陷分析方法与设备在审
| 申请号： | 202111297961.X | 申请日： | 2021-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN113962981A | 公开（公告）日： | 2022-01-21 |
| 发明（设计）人： | 赵林;赖香伶 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 林锦辉;刘景峰 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种球栅缺陷分析方法与设备，该方法包括获取包含缺失焊球的球栅阵列图像；提取所述缺失焊球所在焊盘的焊盘区域图像；确定所述焊盘区域图像中的像素的灰度及与该灰度对应的像素数量；基于所述像素的灰度和数量确定所述缺失焊球的缺陷类型。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 缺陷 分析 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司，未经英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111297961.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
