[发明专利]一种粉末状半导体材料电导率的测量方法在审
| 申请号： | 202111292416.1 | 申请日： | 2021-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN114018986A | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 李硕;张娟;宋溪明;张宇 | 申请（专利权）人： | 辽宁大学 |
| 主分类号： | G01N27/04 | 分类号： | G01N27/04;G01N27/416 |
| 代理公司： | 沈阳杰克知识产权代理有限公司 21207 | 代理人： | 金春华 |
| 地址： | 110000 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种粉末状半导体材料电导率的测量方法。利用基于栅状电极的电导率测试装置，方法如下：于栅状电极蚀刻槽中，滴加已知标准电导率的标准电解质溶液，通过电化学工作站测定标准电解质溶液的电阻；计算电池常数；于栅状电极蚀刻槽中，添加待检测粉末状半导体材料，用玻璃压片压严，通过电化学工作站测定待检测粉末状半导体材料的电阻；计算待检测粉末状半导体材料的电导率。本发明原理简单，设备均为实验室常见测试仪器和材料，搭建和测试成本低且简单易行，可测半导体种类多，且测试中对材料无损害可回收，数据处理简便，结果准确。本发明为测量半导体材料电导率提供了新的手段，给科研工作带来了很大的便利。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 粉末状 半导体材料 电导率 测量方法 | ||
【主权项】：
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