[发明专利]性能测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202111262693.8 | 申请日： | 2021-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN114003478A | 公开（公告）日： | 2022-02-01 |
| 发明（设计）人： | 王达 | 申请（专利权）人： | 上海米哈游璃月科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 赵迎迎 |
| 地址： | 200032 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：当接收到用于启动目标项目的测试流程的测试触发操作时，加载预先构建的性能记录钩子文件，其中，测试流程中包括预先设置的至少一个性能测试点；针对每个性能测试点，当性能测试点测试完成时，基于性能记录钩子文件记录性能测试点的测试详情信息；基于性能记录钩子文件将各个性能测试点的测试详情信息发送至性能测试平台，以使性能测试平台根据各个性能测试点的测试详情信息生成并展示目标项目的性能测试结果。本发明实施例的技术方案，能在目标项目的测试过程中，自动地细粒度地记录每个性能测试点的测试详情信息，节省了人力资源，为后续项目优化奠定了基础。 | ||
| 搜索关键词： | 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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