[发明专利]缺陷识别方法、装置、存储介质及电子设备在审
| 申请号： | 202111244656.4 | 申请日： | 2021-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN113935979A | 公开（公告）日： | 2022-01-14 |
| 发明（设计）人： | 树西;万龙 | 申请（专利权）人： | 昆山万洲特种焊接有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06V10/40;G06V10/70;G06V10/75;G06V10/80;G06K9/62;G06N20/00 |
| 代理公司： | 北京专猎知识产权代理事务所(普通合伙) 16023 | 代理人： | 刘心蕾 |
| 地址： | 215333 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了缺陷识别方法、装置、存储介质及电子设备，上述方法包括获取目标图像，上述目标图像中包括目标检测对象；在预设算法库中确定上述目标检测对象适配的选配算法；基于上述选配算法对上述目标检测对象进行缺陷识别，得到针对上述目标检测对象的缺陷识别结果，上述缺陷识别结果包括缺陷位置信息、上述缺陷的尺寸信息以及上述缺陷位置信息对应的缺陷类型信息。本申请可以基于多种方法对目标对象中的目标检测对象缺陷识别，并且通过多种方法得出的缺陷识别结果进行综合性的数据处理，从而得到准确度明显优于相关技术的针对目标检测对象的缺陷识别结果。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 识别 方法 装置 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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