[发明专利]基于柔性机构的宏微耦合次摆线微納划痕实验机在审

专利信息
申请号: 202111221210.X 申请日: 2021-10-20
公开(公告)号: CN113790988A 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 林彬;吕秉锐;刘春艳;曹中臣;隋天一;张晓峰;赵菲菲 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 李靖
地址: 300350 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 基于柔性机构的宏微耦合次摆线微納划痕实验机,它涉及一种划痕实验机,具体涉及基于柔性机构的宏微耦合次摆线微納划痕实验机。本发明为了解决微纳加工结构大多采用刚性结构形式,其对装配精度要求很高,且行程小、难以微小化,对复杂表面结构的加工能力不足的问题。本发明包括安装台、试样盘承载组件、试样盘、刀盘安装组件、刀盘和背板;所述试样盘承载组件安装在安装台的上表面,试样盘安装在所述试样盘承载组件上,背板竖直固定在安装台的上表面,所述刀盘安装组件安装在背板的上部,刀盘安装在所述刀盘安装组件上,且刀盘位于试样盘的上方。本发明属于微納加工制造领域。
搜索关键词: 基于 柔性 机构 耦合 摆线 划痕 实验
【主权项】:
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