[发明专利]一种高精度竖直测量细长件外形轮廓的装置在审

专利信息
申请号: 202111199265.5 申请日: 2021-10-14
公开(公告)号: CN113970299A 公开(公告)日: 2022-01-25
发明(设计)人: 孙安斌;高廷;邹志;马骊群;乔磊;曹铁泽;王继虎;甘晓川 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 邬晓楠
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的一种高精度竖直测量细长件外形轮廓的装置,属于制造业计量检测领域。本发明主要由竖直基准导向运动组件、多尺寸测量组件、快速定位组件、运动控制系统四部分组成。竖直基准导向运动组件用于实现多尺寸测量组件、快速定位组件的导向、运动驱动及位置测量,快速定位组件采用数字CCD及二维移动复位方案实现被测细长件的快速安装定位,多尺寸测量组件采用旋转非接触扫描测量方案实现被测细长件的截面尺寸测量。本发明能够实现圆形、四边形、六边形等各种截面细长零部件和标准件在竖直状态下的快速安装定位及高精度的外形轮廓测量,具有测量精度高、通用性强、测量高效的优点。
搜索关键词: 一种 高精度 竖直 测量 细长 外形 轮廓 装置
【主权项】:
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