[发明专利]一种基于调制度半宽恒定的自校准结构光测量方法在审
| 申请号： | 202111193353.4 | 申请日： | 2021-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN113916154A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 刘磊;唐燕;赵立新;胡松 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 江亚平 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于调制度半宽恒定的自校准结构光测量方法，可普适性的适用于提高结构光照明测量方法的测量精度、测量可靠性和测量重复性。该方法采用数字微镜阵列(DMD)产生编码光场，经过光学系统投影到物体表面，物体表面高度信息会被编码在条纹调制度信息中，通过相移算法结合高斯曲线拟合可建立起调制度信息和物体高度信息之间的映射关系，进一步使用步距自校准算法对实际扫描步距进行精确自校准进而获得物体准确三维形貌信息。该方法系统结构简单、稳定性强、普适性高，能够有效地提高结构光照明测量的效果和扩大结构光照明测量的应用范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 调制 度半宽 恒定 校准 结构 测量方法 | ||
【主权项】：
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