[发明专利]一种颗粒物全光路校准的测量装置及方法在审
| 申请号： | 202111157621.7 | 申请日： | 2021-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN113804597A | 公开（公告）日： | 2021-12-17 |
| 发明（设计）人： | 邢贺;白乐;国昌哲 | 申请（专利权）人： | 徐州治鼎环境科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 南宁深之意专利代理事务所(特殊普通合伙) 45123 | 代理人： | 徐国华 |
| 地址： | 221008 江苏省徐州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种颗粒物全光路校准的测量装置及方法，该测量装置包括测量腔体和出光部件；测量腔体内设有光阱、光纤、凹面镜、窗口片、进气端和出气端；出光部件通过连接杆安装在设置窗口片一侧的测量腔体的外侧面；出光部件包括准直镜座、激光器和变焦部件；准直镜座上安装有准直透镜；激光器安装在变焦部件上；变焦部件与准直镜座活动连接，即准直透镜与激光器的距离可调整，实现了光束大小的调试。本发明设有变焦部件，通过调整变焦部件的位置，调整激光器和透镜的距离使得光束变大，进入量程校准状态，此时光束照射到进气端产生量校光源，实现全光路量程校准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 物全光路 校准 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于徐州治鼎环境科技有限公司，未经徐州治鼎环境科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202111157621.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
